最近我們?cè)?/span>接待一位來自射頻器件行業(yè)的客戶時(shí)了解到，他們需要對(duì)兩塊射頻功率管內(nèi)相同位置的引線鍵合點(diǎn)分別進(jìn)行推拉力的對(duì)比測(cè)試，以評(píng)估兩塊產(chǎn)品在相同工藝條件下的品質(zhì)一致性。針對(duì)這個(gè)需求，本文科準(zhǔn)測(cè)控小編就和大家分享一下，如何使用推拉力測(cè)試機(jī)來進(jìn)行射頻功率管內(nèi)鍵合引線推力和拉力對(duì)比測(cè)試，同時(shí)詳細(xì)講解測(cè)試參數(shù)設(shè)置、操作流程和數(shù)據(jù)分析方法，為有同樣需求的讀者提供參考。
GaN微波射頻功率放大器件/芯片實(shí)物樣貌
（圖片源自公眾號(hào)“射頻百花潭"）
一、測(cè)試原理
推力測(cè)試：基于靜態(tài)剪切力學(xué)原理，將推刀以設(shè)定剪切高度對(duì)準(zhǔn)待測(cè)點(diǎn)（焊球或金球）側(cè)面，以恒定速度水平推進(jìn)，直至鍵合點(diǎn)從焊盤上脫落，系統(tǒng)記錄最大推力值和力-時(shí)間曲線。
拉力測(cè)試：基于靜態(tài)拉伸力學(xué)原理，將鉤針置于金線下方，以恒定速度向上拉起，直至金線斷裂或鍵合點(diǎn)失效，系統(tǒng)記錄最大拉力值和力-時(shí)間曲線。
二、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
l MIL-STD-883 微電子器件測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)
l GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序
l JESD22-B117A 焊球剪切測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
l ASTM F1269 金線鍵合強(qiáng)度測(cè)試方法
三、測(cè)試設(shè)備
Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)
傳感器配置：
推力測(cè)試：BS250傳感器（量程250g）
拉力測(cè)試：WP100傳感器（量程100g）
四、測(cè)試流程
步驟一：設(shè)備與試樣準(zhǔn)備
檢查推拉力測(cè)試機(jī)水平狀態(tài)及傳感器安裝情況
確認(rèn)傳感器在校準(zhǔn)有效期內(nèi)
在顯微鏡下觀察兩塊射頻功率管試樣的待測(cè)點(diǎn)形貌，確認(rèn)無可見缺陷
步驟二：參數(shù)設(shè)置
推力測(cè)試參數(shù)：
測(cè)試類型：推力測(cè)試（剪切測(cè)試）
傳感器：BS250
量程：250g
測(cè)試速度：500μm/s
剪切高度：根據(jù)焊球高度設(shè)定
拉力測(cè)試參數(shù)：
測(cè)試類型：拉力測(cè)試
傳感器：WP100
步驟三：試樣一測(cè)試
將試樣一固定于夾具中，對(duì)兩個(gè)推力測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行3次推力測(cè)試，對(duì)兩個(gè)拉力測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行3次拉力測(cè)試，每次測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)記錄最大力值和力-時(shí)間曲線
步驟四：試樣二測(cè)試
將試樣二固定于夾具中，對(duì)相同位置的兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行3次推力測(cè)試，對(duì)相同位置的兩個(gè)點(diǎn)各進(jìn)行3次拉力測(cè)試，每次測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)記錄最大力值和力-時(shí)間曲線
步驟五：數(shù)據(jù)匯總與分析
整合推力數(shù)據(jù)、拉力數(shù)據(jù)、力-時(shí)間曲線圖、測(cè)試影像，生成完整的對(duì)比測(cè)試報(bào)告。
推力對(duì)比測(cè)試
拉力對(duì)比測(cè)試
以上就是科準(zhǔn)測(cè)控小編關(guān)于射頻功率管推拉力對(duì)比測(cè)試的相關(guān)介紹了，希望對(duì)您有幫助。如您還有射頻功率管元器件推拉力測(cè)試、鍵合強(qiáng)度評(píng)估或推拉力測(cè)試機(jī)應(yīng)用等方面的疑問與需求，歡迎隨時(shí)通過私信或留言與科準(zhǔn)測(cè)控聯(lián)系。我們的技術(shù)團(tuán)隊(duì)將為您提供專業(yè)的測(cè)試建議與定制化服務(wù)方案。
